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論文

誘導結合プラズマ発光分析法及び原子吸光分析法による高レベル放射性廃棄物模擬ガラス固化体の分析

馬場 恒孝; 萩谷 弘通*; 田村 行人; 米澤 仲四郎

分析化学, 42, p.317 - 323, 1993/00

模擬廃棄物ガラス固化体試料を使用し、高レベル放射性廃棄物ガラス固化体に適する定量分析法を決定した。Si及びBは粉末試料を過酸化ナトリウム融解法により分解後、ICP発光分析法(ICP-AES)により定量した。その他の元素(Li,Na,Al,P,Ca,Fe,Zn,Zr)は粉末試料をフッ化水素酸一過塩素酸により分解後、ICP-AESまたは原子吸光分析法(AAS)で定量した。本法によるNISTガラス標準試料の定量値は、NISTの保証値と7%以内での一致が得られ、また、定量値の再現精度は6%以下であった。

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